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机器视觉非接触测量助力高精度IC尺寸测量

发布时间:2019-08-15 18:31:23 编辑:笔名

  随着工业现代化的发展,已经广泛应用于各大领域,为企业及用户提供更优的产品品质及完美解决方案。

  在工业领域对于IC尺寸测量,即测量IC各个引脚长度和间距。IC引脚是比较脆弱的部件,在生产和传输过程中,都会由于意外操作而产生弯曲、折损、折断等问题。

  要保证终的产品质量,在生产线上配备机器视觉系统,自动测量出引脚的长度和间距就可以判断出该产品是否有上述的不良现象,机器视觉技术非接触测量的技术优势可以极大的提高生产效率,及时有效的将不良产品剔除,保证产品质量。

  下面,中国机器视觉商城为您推荐维视图像(Microvision)机器视觉系统解决方案之IC尺寸测量,看机器视觉技术大显身手。

  一、检测方案

  软件一次将IC上下各7个引脚的长度测量出来,并将两两引脚的间距测量出来,结果会通过串口或者以太传送给。同时测量数据会自动保存起来,方便后续做品质控制管理。

  二、系统性能

  检测速度:3个/s

  检测时间:3~4件/秒

  检测精度:0.02mm

  三、系统配置

  相机:MV-VD200SM(1600 1200、1/2 、USB黑白CCD)

  镜头:AFT-2514MP

  光源:组合LED光源

  PC:MV-VS820嵌入式处理器

  软件:MV-MVIMS机器视觉图像处理软件

  该检测系统可适用于电子、机械、半导体等行业的精密零件尺寸测量。目前利用机器视觉非接触测量技术能够达到的精度已经达到亚微米级以上,同时,机器视觉技术的非接触测量方式,可以长时间地作测量、分析和识别任务,极大的提高生产检测效率,满足高精度行业的需求。

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